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論文

Retention of hydrogen isotopes in divertor tiles used in JT-60U

廣畑 優子*; 柴原 孝宏*; 田辺 哲朗*; 大矢 恭久*; 新井 貴; 後藤 純孝*; 正木 圭; 柳生 純一; 小柳津 誠*; 奥野 健二*; et al.

Fusion Science and Technology, 48(1), p.557 - 560, 2005/07

 被引用回数:3 パーセンタイル:24.17(Nuclear Science & Technology)

JT-60Uで重水素と水素放電に曝されたダイバータタイル中の水素同位体保持特性を昇温脱離法と二次イオン質量分析法で測定した。JT-60Uのタイルから放出する主な気体はH2, HD, D2とCH4であった。内側ダイバータタイルの水素同位体保持量は、再堆積層の厚さに比例して増加した。この直線の勾配より求めた再堆積層中の水素濃度は約0.02で、JT-60で水素放電に曝されたタイルの値に類似し、他のプラズマ実機装置に比べて極めて低かった。この理由として、JT-60Uの運転温度が300$$^{circ}$$Cであったこと、再堆積層がポーラスで基板との熱接触が劣化し、放電中にタイル表面の温度が上昇したものと考えられる。損耗を受けていた外側ダイバータタイルは、内側ダイバータタイルに比べてH保持量が少なく、バッフル板でも同様な傾向が見られた。ドームトップタイルは外側バッフル板とほぼ同程度の保持量であった。タイル中に保持されたDとHの比(D/H)はほぼ0.4であり、放電回数が少なかったHの方がむしろ多く保持されており、表面近傍に保持されていたDが水素放電中に交換されていたことを示唆している。同じことは水素同位体の深さ分析の結果でも示されている。再堆積層直下にも重水素が保持されていた。

論文

Hydrogen retention in divertor tiles used in JT-60 for hydrogen discharge period

廣畑 優子*; 柴原 孝宏*; 田辺 哲朗*; 新井 貴; 後藤 純孝*; 大矢 恭久*; 吉田 肇*; 森本 泰臣*; 柳生 純一; 正木 圭; et al.

Journal of Nuclear Materials, 337-339, p.609 - 613, 2005/03

 被引用回数:13 パーセンタイル:65.32(Materials Science, Multidisciplinary)

JT-60の水素放電期間に使用された下部ダイバータタイル中の水素保持特性を昇温脱離法(TDS),二次イオン質量分析法(SIMS)と弾性反跳検出法(ERDA)で測定した。その結果は以下のようである。(1)JT-60のダイバータタイル上には最大で70ミクロンの再堆積層が堆積していた。(2)単面積あたりの水素保持量は再堆積層の厚さに比例して増加した。(3)再堆積層中の水素濃度が膜中で均一であり、再堆積層の密度がバルクの等方性黒鉛と同じであると仮定して、この比例定数から再堆積層中の水素濃度を求めた。(4)再堆積層中の水素濃度は約0.015であり、この値は他のプラズマ実機装置の再堆積層中の水素濃度に比べて低かった。(5)再堆積層を除去した試料中の水素濃度は直線の外挿点よりも低いことから、再堆積層直下にも水素が保持されていることを示唆している。(6)このような低い水素濃度になった理由としてJT-60は運転温度が300$$^{circ}$$Cであったことと、再堆積層がポーラスで基板との熱接触が劣化し、放電中にタイル表面の温度が上昇したものと考えられる。(7)タイル温度を300$$^{circ}$$C以上に保つことができれば、トリチウムインベントリーを少なくできる。

論文

Probe measurements of hydrogen fluxes during discharge cleaning in JFT-2M

松崎 誼; JFT-2Mチーム

Journal of Nuclear Materials, 162-164, p.752 - 756, 1989/00

放電洗浄において重要な役割を果たしている水素粒子束を、JFT-2Mのテーラ型放電洗浄(TDC)、ECR放電洗浄(ECR-DC)、グロー放電洗浄(GDC)の各放電洗浄において、昇温脱離法(TDS)によって測定した。プローブのカーボンは12$$^{circ}$$C/sの昇温速度で1000$$^{circ}$$C迄上昇した。TDSのスペクトルは800$$^{circ}$$Cにそのピークを持った。水素粒子束の空間分布では、TDCとECR-DCで指数的に減衰し、その減衰長さは各々7.4cm、5.8cmであった。これはスクレープオフ層の長さの理論式とほぼ一致した。

論文

昇温脱離法による放電洗浄の水素粒子束の測定

松崎 誼; 谷 孝志

EP-88-21, p.41 - 48, 1988/00

放電洗浄では低温プラズマによって生成された活性な水素原子等が重要な役割を果たしている。テーラ片放電洗浄(TDC)、ECR放電洗浄(ECR-DC)、グロー放電洗浄(GDC)の特性を知るため、カーボンプロープに捕獲し、昇温・脱離する事で水素粒子束を測定する昇温脱離法(TDS)によって、水素粒子束を測定した。水素粒子束の空間分布の測定結果、TDCとECR-DCでは指数関数的に減衰し、その減衰長さは各々7.4cmと5.8cmであり、これはスクレープオフ属の長さの理論式とほぼ一致した。

口頭

バーミキュライトからのCs除去における真空溶融塩処理法の利点

下山 巖; 平尾 法恵; 馬場 祐治; 岡本 芳浩; 矢板 毅; 鈴木 伸一; 和泉 寿範

no journal, , 

福島における現在の主な放射性汚染物質であるCsはそのほとんどが土壌中の粘土鉱物に取り込まれている。粘土鉱物からのCs乾式除去を目的として、本研究では非放射性Csを飽和収着させた福島産バーミキュライトに対して真空及び低圧加熱処理を行った。Csの脱離挙動に関しては昇温脱離法(TDS)により調べた。また、大気中と低圧中の比較を熱重量分析(TGA)により行った。TGAとTDSの結果から大気中の加熱では脱離しないCsが低圧加熱により脱離することを見いだした。また、NaCl/CaCl$$_{2}$$混合塩を添加した場合、Cs脱離温度が200$$^{circ}$$Cほど低温側にシフトすることを見いだした。粘土鉱物中に残留したCsについてはX線光電子分光法(XPS)により定量分析を行い、塩添加せず真空中で800$$^{circ}$$C加熱した試料では、約4割のCs除去が確認された。また、塩添加した試料では320$$^{circ}$$Cで約6割、450$$^{circ}$$C加熱で約7割のCs除去が可能であることがわかった。以上の結果は真空(低圧)昇華法と塩添加の組み合わせが従来の乾式法よりも低温でのCs除染の可能性を持つことを示唆している。

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